Jornada de Vigilancia Tecnológica en el ITC 
ITC 
 

EL ITC IMPULSA LA VIGILANCIA TECNOLÓGICA COMO HERRAMIENTA CLAVE EN LA EMPRESA

 

• El ITC, certificado por AENOR como Centro de Excelencia en Vigilancia Tecnológica, acogerá el próximo martes 20 de octubre a las 17: 00 horas la jornada: “Vigilancia Tecnológica: impulso al éxito”, dedicada a informar tanto al empresariado de diferentes sectores productivos como al ámbito científico y al público interesado en la Vigilancia Tecnológica como instrumento clave en el avance e incremento de competitividad de la empresa actual.


• En la Jornada se realizará la presentación del Informe: “Nanotecnología aplicada a la cerámica” elaborado por el Observatorio Tecnológico del ITC.

 
• En el marco de esta Jornada se celebrará también en el ITC el II Encuentro de centros certificados en Vigilancia Tecnológica por AENOR según la Norma UNE 166006:2006 EX

 

La Vigilancia Tecnológica, como se viene afirmando desde el año 1999, está siendo una actividad de tanta relevancia en las empresas actuales como lo pueden ser la I+D o el marketing.
Según estudios de la Unión Europea, se consumen 20.000 millones de euros cada año (lo que representaría el 25% del presupuesto de la UE destinado a I+D) en investigar sobre temas que ya han sido objeto de estudio, que incluso ya están patentados.

 
La Vigilancia Tecnológica permite evitar este derroche, optimizando el gasto en investigación en actividades inéditas y descartando aquellas que ya han sido estudiadas. Constituye fundamentalmente un sistema de captación y análisis de información de carácter científico y tecnológico, que sirve de ayuda a los procesos de toma de decisiones en las empresas y también en las instituciones científicas.
A la hora de estudiar y desarrollar una innovación tecnológica, tanto el empresariado como el personal investigador tienen la posibilidad de recurrir al sistema de Vigilancia Tecnológica, ya que, gracias a él, pueden detectarse fuentes de información esenciales para hacer frente a la toma de decisiones, al tiempo que se obtiene información muy relevante en cuanto a tendencias tecnológicas, diferentes ventajas o amenazas, competidores, posibles socios o alianzas, etc., contemplando además otros aspectos como la situación del mercado, que pueden ser claves a la hora de tener éxito en el desarrollo de productos o procesos innovadores.
La Vigilancia Tecnológica es el sistema que analiza, estructura y gestiona, de un modo sistemático y con una metodología adecuada, toda esta gran cantidad de información que después puede ofrecer a la empresa o al centro investigador para que ambos tengan la posibilidad de planificar sus estrategias tecnológicas con mayor conocimiento y más seguridad.

 
Una de las grandes ventajas que ofrece este sistema a las pequeñas y medianas empresas es que permite obtener innovación sin necesidad de dedicar grandes esfuerzos a la investigación, simplemente estando al día de las novedades que aparecen en su ámbito de trabajo y adpatándolas después a su proceso.
En la Jornada que organiza el ITC y que comenzará a las 17: 00 horas se hablará, tras la introducción de Yolanda Reig, Responsable del Centro de Soporte a la Innovación del ITC, sobre conceptos básicos de la Vigilancia Tecnológica para pequeñas y medianas empresas (en una presentación a cargo de Maria Jesús José, Responsable Centro de Documentación del ITC) así como del impacto de la Vigilancia Tecnológica en la I+D+i, a cargo de Gerardo Malvido, Director de Desarrollo de AENOR, o la Vigilancia y Prospectiva, una presentación preparada por Juan Antonio Cabrera. Responsable de la unidad de Prospectiva y Vigilancia Tecnológica del CIEMAT.

 
También se explicarán los Sistemas de de Información del ITC, es decir, la Plataforma del Observatorio Cerámico, que contará con la intervención de David Gobert, como Responsable del Observatorio de Mercado; Silvia Rodríguez, Responsable del Observatorio de Tendencias del Hábitat en el ITC y Vicente Lázaro, Responsable del Observatorio Tecnológico, quien realizará en esta misma jornada la presentación del Informe: “Nanotecnología aplicada a la cerámica”. Posteriormente, Estefanía Aguilar, miembro del equipo de Vigilancia Tecnológica del ITC, intervendrá aportando una serie de datos a tener en cuenta con respecto a las “Patentes: fuentes de información tecnológica”. Para finalizar, Ignacio Temiño, de Abril Abogados, aportará más datos sobre la “Vigilancia tecnológica de patentes. Ejemplos de consecuencias legales del desconocimiento”.
Cabe destacar que ese mismo día por la mañana se celebrará el II Encuentro de centros certificados en Vigilancia Tecnológica por AENOR (Norma UNE 166006:2006 EX), a fin de intercambiar sus experiencias profesionales en el ámbito de la Vigilancia Tecnológica y compartir sus prácticas o metodologías en este sentido, ya que estos centros son pioneros en su gestión.

Más información e inscripciones a la jornada 

© ITC-AICE, 2013
Tel.: +34 964 34 24 24 | Fax: +34 964 34 24 25
AENORRED ITIMPIVAFondo Europeo de Desarrollo Regional