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XL30 CP
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El microscopio XL30 CP se utiliza básicamente para el estudio de defectos, dada su robustez y rapidez de respuesta. Para ello se prepara una sección transversal del defecto con ayuda de un microscopio óptico y se buscan heterogeneidades que puedan estar relacionadas con la formación del defecto. Posteriormente la probeta se observa y analiza con el microscopio electrónico.

Caso1: contaminación de hierro

Caso 2: contaminación de aluminio metal
 
 
 

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