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Ensayos específicos

  • Microscopía óptica. Observación y fotografía de una muestra
  • Microscopía óptica. Análisis de imagen
  • MEB. Observación y fotografía de una muestra
  • Microanálisis por dispersión de energías
  • Determinación del porcentaje y tamaño de fases. MEB y análisis de imagen
  • Medida de luz de malla y de diámetro de hilo de tamices
  • Análisis de superficies por XPS
  • Perfil de composición en profundidad (XPS)

Servicios

  • Estudios de defectos  por microscopía óptica y electrónica
  • Formación especializada
  • Colaboración en proyectos de investigación
  • Estudios de ataque a refractarios

Capacidades

  • Microscopio electrónico de barrido
  • Microscopio electrónico de barrido FEG-ESEM
  • ESCA/XPS: Espectroscopía de fotoelectrones. Análisis de superficies.
  • Microscopios ópticos
  • Análisis de imagen
 
 
 

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