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Ensayos específicos

• Microscopía óptica. Observación y fotografía de una muestra
• Microscopía óptica. Análisis de imagen
• MEB. Observación y fotografía de una muestra
• Microanálisis por dispersión de energías
• Determinación del porcentaje y tamaño de fases. MEB y análisis de imagen
• Medida de luz de malla y de diámetro de hilo de tamices
• Análisis de superficies por XPS
• Perfil de composición en profundidad (XPS)

Servicios

• Estudios de defectos  por microscopía óptica y electrónica
• Formación especializada
• Colaboración en proyectos de investigación
• Estudios de ataque a refractarios

Capacidades

• Microscopio electrónico de barrido
• Microscopio electrónico de barrido FEG-ESEM
• ESCA/XPS: Espectroscopía de fotoelectrones. Análisis de superficies.
• Microscopios ópticos
• Análisis de imagen